2017-519
X射線晶體分析儀能夠提供穩(wěn)定的X射線光源,特點是利用可控硅和集成電路自動控制系統(tǒng)進行調(diào)流調(diào)壓,從而獲得一個強而穩(wěn)定的射線光源.該機射線發(fā)生器功率大,整機穩(wěn)定性高,操作簡單,可靠性強,防護完善,可與各種射線照相機一起構(gòu)成X射線晶體分析儀,或用于其他用途的X射線光源。廣泛用于冶金、機械,電子、化工、地質(zhì)、能源等科研、企業(yè)、大專院校。X射線晶體分析儀主要用于研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)。如：單晶定向、檢驗缺陷、物質(zhì)定性、測定點陣參數(shù)、測定殘余應(yīng)力等。X射線晶體分析儀主要特點：1.冷卻裝置：...
查看更多2017-55
無損探傷機是利用射線的穿透性和直線性來探傷的方法。這些射線雖然不會像可見光那樣憑肉眼就能直接察知，但它可使照相底片感光，也可用特殊的接收器來接收。常用于探傷的射線有x光和同位素發(fā)出的γ射線，分別稱為x光探傷和γ射線探傷。當這些射線穿過（照射）物質(zhì)時，該物質(zhì)的密度越大，射線強度減弱得越多，即射線能穿透過該物質(zhì)的強度就越小。此時，若用照相底片接收，則底片的感光量就??；若用儀器來接收，獲得的信號就弱。因此，無損探傷機用射線來照射待探傷的零部件時，若其內(nèi)部有氣孔、夾渣等缺陷，射線穿過...
查看更多2017-421
X射線衍射儀采用進口可編程序控制器（PLC）技術(shù)，該技術(shù)控制確，抗干擾性好，可實現(xiàn)高壓控制部分*率。PLC與微機接口，可實現(xiàn)微機終端直接控制儀器高壓的開關(guān)，升降及光閘的開關(guān)。使儀器自動化程度更高。性能更加穩(wěn)定。全中文界面，保護功能齊全，可有效地避免一些外在因素造成儀器的損壞。具有自動訓(xùn)練X射線管的功能。在開高壓的過程中可直接升降高壓，勿需關(guān)閉高壓重新進行操作延長X射線管及儀器的使用壽命。高精度立式測角儀采用先進的軸編碼器結(jié)構(gòu)，zui小步進角0.0005°，是目前國內(nèi)精度zui...
查看更多2017-414
一、設(shè)備完好要求1、技術(shù)參數(shù)符合要求。2、控制箱運用靈活，無失靈現(xiàn)象。3、各參數(shù)、狀態(tài)指示穩(wěn)定、準確。4、計時準確。5、控制箱工作噪音應(yīng)附合要求。6、發(fā)生器工作時，工作電壓、電流穩(wěn)定性好。7、外觀檢查清潔衛(wèi)生，無明顯損傷。二、技術(shù)安全操作規(guī)程1、為保護射線管使用壽命，工作前檢查該機是否穩(wěn)定，機頭風(fēng)扇是否正常運轉(zhuǎn)和有無其它故障。2、工作前應(yīng)對曝光曲線。增感方式、靈敏度等技術(shù)參數(shù)進行測定，以便選擇*參數(shù)。3、工作前對膠片進行參數(shù)測定。4、工作時應(yīng)用國家防護標準采用距離、時間、屏蔽...
查看更多2017-329
X射線晶體定向儀利用X射線衍射原理,精密快速地測定天然和人造單晶(壓電晶體、光學(xué)晶體、激光晶體、半導(dǎo)體晶體)的切割角度，與切割機配備可用于上述晶體的定向切割，是精密加工制造晶體器件*的儀器。該儀器廣泛應(yīng)用于晶體材料的研究、加工、制造行業(yè)。X射線晶體定向儀測量精度±30″，顯示方式為數(shù)字式，zui小讀數(shù)為10″。特點：X射線晶體定向儀操作簡便,不需要專業(yè)知識和熟練的技術(shù)；數(shù)字顯示測量角度,容易觀察,減少視覺帶來的讀數(shù)誤差；顯示器可在任意角度置零,便于直讀角度偏差值...
查看更多2017-328
2017-313
一、X射線探傷技術(shù)在文物考古中應(yīng)用的原理X射線探傷技術(shù)，是利用射線透過物體時，發(fā)生吸收和散射這一特性，通過測量材料中因缺陷存在影響射線的吸收來探測缺陷的一種技術(shù)。根據(jù)底片上有缺陷部位與無缺陷部位的黑度圖像不一樣，就可判斷出缺陷的種類、數(shù)量、大小等，這就是射線照相探傷的原理，也稱X射線照相技術(shù)。在考古學(xué)中運用X射線照相技術(shù)，就是利用X射線照相方法所具有不損壞器物的特性，而且，具有高穿透能力的電磁輻射X射線。在文物保護工作中單一的利用數(shù)碼照片，只能對器物表面及形的一些信息進行了解...
查看更多2017-223
X射線衍射儀是根據(jù)布拉格衍射原理，通過晶體對X射線的衍射，獲得樣品內(nèi)部原子的排列信息。可以對金屬固體、粉末或薄膜等樣品進行物相的定性和定量分析、晶格參數(shù)的測定、微觀應(yīng)力分析，還能對晶粒尺寸、薄膜厚度、點陣畸變等方面研究。X射線衍射儀是科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中*的重要儀器，在化學(xué)、化工、材料、地質(zhì)、冶金等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。X射線衍射儀主要應(yīng)用于樣品的物相定性或定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、材料的結(jié)構(gòu)宏觀應(yīng)力的測定、晶粒大小測定、結(jié)晶度測定等，根據(jù)實際需要可以安裝各種特殊功能的附件及相應(yīng)...
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